<meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=UTF-8" /> Michael Crotty , JMP Statistical Writer, SAS
michael @ jmp
Ein Abdeckungsarray ermöglicht einem Softwaretester, Interaktionen zwischen Komponenten eines Softwaresystems effizient zu testen. Aufgrund äußerer Überlegungen müssen manchmal bestimmte Interaktionsebenen in einen Testplan aufgenommen werden. Unser Testplan für die neue Destructive Degradation-Plattform in JMP 12 ist ein Array der Stärke 2, das die zusätzlichen erforderlichen Läufe enthält. Diese Präsentation beginnt mit einer Demonstration der neuen Destructive Degradation-Plattform. Mit dieser Plattform können Sie modellieren, wie sich ein Produkt im Laufe der Zeit verschlechtert, wenn Sie es zur Messung der Antwortvariablen zerstören müssen. Als Nächstes stellen wir die Abdeckung von Arrays und ihre Effizienzkennzahlen vor. Wir zeigen, wie Sie die Covering Array-Plattform in JMP Pro 12 verwenden können, um einen Testplan für die Destructive Degradation-Plattform zu entwickeln. Wir verwenden die Äquivalenzpartitionierung, um die Anzahl der erforderlichen Testfälle zu reduzieren, und erweitern dann das Design manuell um die zusätzlichen erforderlichen Interaktionen. Wir zeigen, wie JMP Effizienzkennzahlen für die verschiedenen Designs berechnet. Zum Abschluss diskutieren wir diese Metriken für das erweiterte Design.
