Wachstumskurven für die Modellierung von Zuverlässigkeit mit JMP® 10
Marie Gaudard, Beraterin, North Haven Group
Leo Wright, Produktmanager für Zuverlässigkeit und Qualität, JMP
Dieser Vortrag bietet eine Einführung in die Reliability Growth-Plattform in JMP 10. Der Bereich des Zuwachses der Zuverlässigkeit umfasst Techniken zum Modellieren der Verbesserung der Zuverlässigkeit für reparierbare Systeme über einen Zeitraum aufgrund der Durchführung von Korrekturmaßnahmen für Systemdesign, Betriebs- und Wartungsverfahren oder den damit verbundenen Herstellungs-, Montage- oder Fertigungsprozess. Viele führende Organisationen, darunter das US-Verteidigungsministerium, setzen Zuverlässigkeitsanalysen für das Design ein und erweitern die Technik zur Verbesserung bestehender Produkte. Die Reliability Growth-Plattform in JMP 10, die in ein Programm zur Verwaltung des Zuverlässigkeitswachstums integriert ist, eröffnet neue Möglichkeiten zur Steigerung der Rentabilität des Produktlebenslaufs.
