Modélisation des courbes de croissance de la fiabilité avec JMP® 10
Marie Gaudard, PhD, Consultante, North Haven Group
Leo Wright, chef de produit fiabilité et qualité, JMP
Cette présentation fournit une introduction à la plateforme Reliability Growth de JMP 10. Le domaine de la croissance de la fiabilité englobe les techniques de modélisation de l'amélioration de la fiabilité des systèmes réparables sur une période donnée en raison de la mise en œuvre d'actions correctives dans les procédures de conception, d'exploitation et de maintenance du système, ou dans le processus de fabrication, d'assemblage ou de fabrication associé. De nombreuses organisations de pointe, notamment le ministère américain de la Défense, adoptent l'analyse de la croissance de la fiabilité pour la conception et étendent également la technique d'amélioration des produits existants. Lorsqu'elle est intégrée dans un programme de gestion de la croissance de la fiabilité, la plateforme Reliability Growth de JMP 10 offre de nouvelles opportunités pour augmenter la rentabilité des produits sur la durée de vie.
