Visuelle Toleranzanalyse zur technischen Optimierung
Zhou Wei, MS, JMP Hauptberater – SAS Institute (Beijing) Co. Ltd.
Klassische Methoden der Versuchsplanung (DOE) werden häufig in den Bereichen Design, Fertigung, Qualitätsmanagement usw. angewendet. Dies ist jedoch nicht das Ende von DOE. Einer seiner Mängel ist die Vernachlässigung der Fehlerausbreitung, was bedeutet, dass der sogenannte „verbesserte Prozess“ immer noch eine gewisse Menge an Fehlern kontinuierlich erzeugt. Die visuelle Toleranzanalyse ist eine gute Möglichkeit, das Hindernis zu überwinden, und sie ergänzt effektiv die klassische DOE und perfektioniert die endgültige realisierbare Lösung. Zunächst stellt dieser Artikel kurz den Hintergrund und den Studienwert der Toleranzanalyse vor. Anschließend wird die visuelle Toleranzanalyse hervorgehoben, die „Defect Profiler“ und „Defect Parametric Profile“ umfasst, zwei neue Visualisierungstechniken. Mithilfe der visuellen Toleranzanalyse könnten technische und statistische Analysten zusammenarbeiten, um herauszufinden, was der Schlüsselfaktor für die Ausbreitung von Fehlern ist und wie diese deutlich und kostengünstig reduziert werden kann. Um die Analyseeffizienz für Statistiker zu verbessern und das Verständnis für Nicht-Statistiker zu erleichtern, wird außerdem ein verwandtes Beispiel mit JMP-Software beleuchtet, um die Leistungsfähigkeit dieses boomenden technischen Optimierungsansatzes in der DOE-Familie zu zeigen.
