게이지 R&R - 부품 설정값은 무엇입니까?안녕하세요!
저희는 제품 품질 지표를 측정하는 독특한 방식을 사용하고 있습니다. 이 방식은 기술자가 제품을 직접 다루어 샘플 스택을 만드는 과정을 필요로 합니다. 저희는 측정 장비의 정확도에 대한 조사를 진행하면서, 샘플 스택 생성 과정이 측정값의 변동을 유발하는 원인일 수 있다는 가설을 세웠습니다.
따라서 이번 실험에서는 동일한 부품을 사용하여 3명의 기술자가 해당 부품 하나에서 10개의 샘플 스택("A"~"J")을 준비했습니다. 각 스택은 부품 길이를 따라 7개 위치에서 측정되었습니다.
그런데 게이지 교체 작업을 할 때, 이 경우 어떤 부품이 교체 대상에 포함되는지 좀 헷갈립니다. 일반적인 게이지 교체 작업과는 조금 다른 것 같네요.
아니면, 계측기 R&R 분석이 기술자의 취급으로 인해 공정에 발생한 오차를 파악하는 데 적합한 분석 방법일까요?
기초 데이터 분석 및 모델링품질 및 공정 엔지니어링제목: 게이지 R&R - 부품 설정값은 어떻게 해야 하나요?제 생각을 말씀드리겠습니다. 특정 측정 도구 자체에 너무 집중하지 마세요. 우선 측정 도구의 정확도는 기준 표준(예: NIST, CSA, TUV, BSI) 측정을 통해서만 평가할 수 있습니다. 제 생각에는 질문의 핵심은 전체 측정 과정, 특히 기기의 정밀도에 대한 것 같습니다. 샘플 스택 생성 과정이 변동에 영향을 미친다는 가설을 제시하셨는데(이유는 설명하지 않으셨지만), 이는 기기 자체가 아니라 측정 과정의 문제입니다. 기술자들이 무엇을 다르게 하고 있는 걸까요? 연구 대상 샘플 수를 10개로 정하신 이유는 무엇인가요? 그 10개의 샘플은 어떻게 선정되었나요? 그 10개의 샘플에는 어떤 샘플(스택) 변동 요인이 반영되어 있나요? 스택 내 7개 측정 항목에 대해서도 같은 질문을 드립니다. 왜 7개인가요? 이 측정값들은 체계적으로 측정되는 건가요, 아니면 무작위로 측정되는 건가요? 기술자 수에 대해서도 같은 질문을 드립니다. 왜 3명인가요?
제 추천은 이것을 변동성 연구의 한 요소로 간주하는 것입니다. 연구에 포함해야 할 요소는 측정 담당자, 스택 간 변동, 스택 내 변동입니다. 귀하의 연구에는 동일한 측정 담당자가 동일한 스택의 동일한 위치를 측정하는 요소(측정 반복성)가 포함되어 있지 않은 것 같지만, 이 요소를 쉽게 추가할 수 있습니다. 연구는 중첩 설계, 체계적 설계 또는 교차 설계로 진행할 수 있습니다.
제목: 게이지 R&R - 부품 설정값은 어떻게 해야 하나요?게이지 R&R 연구에서는 모든 작업자가 동일한 부품을 측정한다고 가정하며, 부품 간의 변동("제품 변동")은 생산 공정으로 인해 발생합니다. 서로 다른 공정 영향으로 인해 위치 간에 체계적인 변동이 발생할 것으로 예상하십니까? 아니면 위치 간 변동은 동일한 공정 영향에서 비롯된 무작위적인 변동입니까?
