El análisis de la capacidad de los procesos en la fabricación de alto riesgo exige rigor y consistencia; sin embargo, su ejecución se ve frecuentemente obstaculizada por datos no normales, ruido en las mediciones, inestabilidad del proceso y conocimientos estadísticos desiguales. Esta presentación introduce un flujo de trabajo y una metodología de cuadro de mando totalmente automatizados para el análisis de la capacidad de los procesos de JMP, diseñados para eliminar sistemáticamente estas barreras.
Utilizando el Generador de Flujos de Trabajo de JMP 19, hemos sintetizado 20 plataformas analíticas en un sistema unificado que minimiza el error humano y reduce las barreras para los usuarios con conocimientos estadísticos limitados. Demostramos cómo este enfoque sistemático aborda cuatro pilares fundamentales:
- Inteligencia distribucional: Manejo de datos no normales mediante análisis automatizado de bondad de ajuste, ajuste de curvas óptimas y análisis de intervalos de tolerancia.
- Integración de la metrología: Cuantificación del impacto oculto de la precisión de la repetibilidad y reproducibilidad de los instrumentos de medición en la capacidad declarada.
- Validación de la estabilidad: Integración de Control Chart Builder para garantizar la estacionariedad del proceso antes del cálculo del índice.
- Simulación económica: Utilización de capacidades de simulación para calcular el retorno de la inversión (ROI) de las mejoras de procesos.
Un aspecto destacado de esta sesión es nuestro estudio de simulación creativa. Presentamos una metodología para cuantificar el grado de mejora comparando el ruido de medición (relación P/T) con los cambios reales del proceso (Pp/Cp). Esto permite a los líderes tomar decisiones basadas en datos sobre si invertir en una mejor metrología o en ingeniería de procesos fundamental, priorizando las inversiones en mejora mediante este marco de simulación del retorno de la inversión (ROI).
Los asistentes se llevan consigo un modelo de nuestro paquete de scripts y flujos de trabajo agrupados, un marco probado que ha transformado las estrategias de mejora continua en entornos de semiconductores, estableciendo un estándar repetible y defendible para el análisis de capacidades a gran escala.
