L'analisi della capacità di processo nella produzione ad alto rischio richiede rigore e coerenza, eppure la sua esecuzione è spesso compromessa da dati non normali, rumore di misurazione, instabilità del processo e competenze statistiche disomogenee. Questa presentazione illustra un flusso di lavoro e una metodologia di scorecard per l'analisi della capacità di processo completamente automatizzati, basati su JMP, progettati per eliminare sistematicamente questi ostacoli.
Utilizzando il Workflow Builder di JMP 19, abbiamo sintetizzato 20 piattaforme analitiche in un sistema unificato che riduce al minimo l'errore umano e semplifica l'utilizzo per gli utenti con competenze statistiche limitate. Dimostriamo come questo approccio sistematico affronti quattro pilastri fondamentali:
- Intelligenza distributiva: Gestione di dati non normali tramite analisi automatizzata di bontà dell'adattamento, adattamento della curva ottimale e intervallo di tolleranza.
- Integrazione metrologica: quantificare l'impatto nascosto della precisione R&R degli strumenti di misura sulla capacità dichiarata.
- Validazione della stabilità: Integrazione di Control Chart Builder per garantire la stazionarietà del processo prima del calcolo dell'indice.
- Simulazione economica: utilizzo di funzionalità di simulazione per calcolare il ritorno sull'investimento (ROI) dei miglioramenti di processo.
Un punto saliente di questa sessione è il nostro studio di simulazione creativo. Introduciamo una metodologia per quantificare il grado di miglioramento confrontando il rumore di misurazione (rapporto P/T) con le reali variazioni di processo (Pp/Cp). Ciò consente alla dirigenza di prendere decisioni basate sui dati in merito all'opportunità di investire in una metrologia migliore o nell'ingegneria di processo fondamentale, dando priorità agli investimenti di miglioramento attraverso questo quadro di simulazione del ROI.
I partecipanti al termine del corso avranno a disposizione una bozza del nostro pacchetto di script e flussi di lavoro raggruppati, un framework collaudato che ha trasformato le strategie di miglioramento continuo negli ambienti dei semiconduttori, stabilendo uno standard ripetibile e difendibile per l'analisi delle capacità su larga scala.
