순차적 CUSUM 순열 테스트를 사용하여 프로세스 시프트 식별 순차적 CUSUM 순열 테스트를 사용하여 프로세스 시프트 식별
Nelson Lee Afanador, 시니어 프로젝트 Statistician; Hesham M. Fahmy, Ph.D, Merck & Co. Scientific Fellow
순차적 CUSUM 순열 시험에 기초한 새로운 변화 점 검출 절차가 제시된다. 새로운 절차는 공정 엔지니어에게 특수한 변형 원인을 찾는 데 유용한 정보를 제공하고 근본 원인 식별 프로세스의 비용과 시간을 크게 줄일 수 있습니다. 새로운 절차는 R로 작성되었으며 JMP GUI와 함께 JMP와 R을 통합하여 엔지니어와 과학자에게 새로운 도구를 더욱 실용적으로 사용할 수있게했습니다. 이 프리젠 테이션에서는 제조 프로세스의 변화 지점을 객관적으로 식별하기 위해 순차적 순열 테스트를 사용하는 새로운 접근법을 검토합니다.
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