Das Testen ist ein entscheidender Bestandteil der Entwicklung komplexer Systeme, dennoch können Testingenieure selten alle möglichen Kombinationen von Systemeingaben evaluieren. Zunehmende Systemkomplexität, begrenzte Budgets und enge Zeitpläne erfordern strategischere Ansätze im Testdesign. Die Herausforderung wird noch größer, wenn bestimmte Eingaben oder Faktoren teuer oder zeitaufwändig zu ändern sind, sodass Ingenieure die Testabdeckung sorgfältig mit den praktischen Einschränkungen abwägen müssen.
In diesem Vortrag untersuchen wir, wie sich Covering Arrays effizient zum Testen komplexer Systeme einsetzen lassen, ohne die sinnvolle Abdeckung des Eingaberaums zu beeinträchtigen. Covering Arrays sind ein leistungsstarkes Werkzeug für kombinatorische Tests, mit dem Entwickler die gewünschte Interaktionsabdeckung mit deutlich weniger Testfällen als bei vollständigen Tests erreichen können. Wir erweitern diesen Ansatz, um schwer veränderbare Faktoren zu berücksichtigen, indem wir Covering Arrays mit Split-Plot-Struktur einführen. Dadurch können Testpläne realen Testbedingungen Rechnung tragen. Anhand von JMP demonstrieren wir die praktische Erstellung dieser strukturierten Covering Arrays.
Zum Schluss stellen wir eine konkrete Anwendung dieser Methodik zum Testen eines JMP-Add-Ins vor und zeigen, wie die Einbeziehung von Split-Plot-Abdeckungsarrays den Testaufwand und -zeitaufwand erheblich reduzieren kann, während gleichzeitig das Vertrauen in das Systemverhalten erhalten bleibt.
