En los datos de semiconductores y relacionados, a menudo encontramos múltiples fuentes de variación. Por ejemplo, variación entre lotes, entre obleas y entre plantas. Al crear gráficos de control, un punto suele representar un lote. Este lote suele ser un promedio, y los múltiples puntos medidos a partir de ese promedio abarcan varias obleas y/o plantas. En los cálculos tradicionales de límites de control Xbar, la variación dentro de cada subgrupo se utiliza para calcular los límites del gráfico Xbar. Sin embargo, la variación entre obleas y entre plantas puede no tener ninguna relación con la variación entre lotes. Por lo tanto, los límites de control calculados a partir de la variación entre obleas y entre plantas pueden parecer absurdos en un gráfico de control Xbar donde cada punto representa un lote. He visto ejemplos con datos reales que utilizan cálculos tradicionales de límites Xbar, donde casi todos los puntos se marcan como fuera de control (OOC) debido a la excesiva rigidez de los límites.
Sería mucho mejor si los límites del gráfico de control Xbarra en este ejemplo se basaran en la variación entre lotes.
Hasta donde sé, esto solo es posible actualmente en JMP17 usando Analizar > Calidad y Proceso > Gráficos de Control Heredados > Resumen Preliminar . Me temo que la función Resumen Preliminar se eliminará ("Heredado") en una futura versión de JMP. O bien se mantiene como una plataforma en JMP, o se crea una nueva plataforma que tenga la misma capacidad de calcular los límites de control a partir de la variación en el mismo gráfico.
