親愛的社群成員們，我想和大家分享一張在歐洲探索高峰會上展示的非常有趣的海報。
利用非標準控製圖檢測半導體製造廠中突發的製程時間變化
這張海報旨在追蹤晶圓（用於製造晶片的薄片材料）在特定製造步驟中於設備內部停留的時間。本質上，我們是在監控設備的運作時間。
連結在此： https 
/community.jmp.com/t5/Abstracts/Detecting-Sudden-Process-Time-Variations-in-a-Semicon-Fab-using/ec-p/916583#M2319
其他精彩演講請見： https://community.jmp.com/t5/Abstracts/eb-p/abstracts? tags=Europe,2026
