Estimada comunidad, me gustaría compartir este póster tan interesante que se presentó en la Cumbre Discovery Europe.
Detección de variaciones repentinas en el tiempo de proceso en una fábrica de semiconductores mediante gráficos de control no estándar.
Este póster trata sobre el seguimiento del tiempo que las obleas —las finas láminas de material que se utilizan para fabricar chips— permanecen dentro de un equipo durante una etapa específica del proceso de fabricación. En esencia, estamos monitorizando el tiempo de procesamiento del equipo.
Aquí está el enlace: https://community.jmp.com/t5/Abstracts/Detecting-Sudden-Process-Time-Variations-in-a-Semicon-Fab-using/ec-p/916583#M2319
Otras presentaciones interesantes se pueden encontrar aquí: https://community.jmp.com/t5/Abstracts/eb-p/abstracts?tags=Europe,2026
