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欧洲探索峰会海报：利用非标准控制图检测半导体制造厂中突发的工艺时间变化

亲爱的社区成员们，我想和大家分享一张在欧洲探索峰会上展示的非常有趣的海报。

利用非标准控制图检测半导体制造厂中突发的工艺时间变化

这张海报旨在追踪晶圆（用于制造芯片的薄片材料）在特定制造步骤中于设备内部停留的时间。本质上，我们是在监控设备的运行时间。

链接在此： https /community.jmp.com/t5/Abstracts/Detecting-Sudden-Process-Time-Variations-in-a-Semicon-Fab-using/ec-p/916583#M2319

其他精彩演讲请见： https://community.jmp.com/t5/Abstracts/eb-p/abstracts? tags=Europe,2026

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