안녕하세요, 커뮤니티 여러분. 디스커버리 서밋 유럽에서 발표된 매우 흥미로운 포스터를 공유하고 싶습니다.
비표준 관리도를 사용하여 반도체 제조 공장에서 발생하는 급격한 공정 시간 변동을 감지하는 방법
이 포스터는 칩을 만드는 데 사용되는 얇은 웨이퍼가 특정 제조 공정 동안 장비 내부에 머무르는 시간을 추적하는 것에 관한 것입니다. 즉, 장비의 처리 시간을 모니터링하는 것입니다.
다음은 관련 링크입니다: https://community.jmp.com/t5/Abstracts/Detecting-Sudden-Process-Time-Variations-in-a-Semicon-Fab-using/ec-p/916583#M2319
다른 흥미로운 발표 자료는 다음 링크에서 확인하실 수 있습니다: https://community.jmp.com/t5/Abstracts/eb-p/abstracts?tags=Europe,2026
