ディスカバリーサミットヨーロッパ ポスター発表：非標準管理図を用いた半導体製造工場におけるプロセス時間変動の検出コミュニティの皆様へ、ディスカバリーサミットヨーロッパで発表された、大変興味深いポスターをご紹介したいと思います。
半導体製造工場におけるプロセス時間の急激な変動を非標準管理図を用いて検出する
このポスターは、チップの製造に使用される薄い材料であるウェハーが、特定の製造工程において装置内にどれくらいの時間滞留するかを追跡することを目的としています。つまり、装置の処理時間を監視しているのです。
リンクはこちらです： https://community.jmp.com/t5/Abstracts/Detecting-Sudden-Process-Time-Variations-in-a-Semicon-Fab-using/ec-p/916583#M2319
その他の興味深いプレゼンテーションは、こちらからご覧いただけます： https://community.jmp.com/t5/Abstracts/eb-p/abstracts? tags=Europe,2026
