Cari membri della community, vorrei condividere con voi questo interessantissimo poster presentato al Discovery Summit Europe.
Rilevamento di variazioni improvvise dei tempi di processo in una fabbrica di semiconduttori mediante diagrammi di controllo non standard
Questo poster illustra come monitorare il tempo di permanenza dei wafer – le sottili lamine di materiale utilizzate per la produzione dei chip – all'interno di un'apparecchiatura durante una specifica fase di produzione. In sostanza, monitoriamo il tempo di processo dell'apparecchiatura.
Ecco il link: https://community.jmp.com/t5/Abstracts/Detecting-Sudden-Process-Time-Variations-in-a-Semicon-Fab-using/ec-p/916583#M2319
Altre presentazioni interessanti sono disponibili qui: https://community.jmp.com/t5/Abstracts/eb-p/abstracts?tags=Europe,2026
