Liebe Community, ich möchte Ihnen dieses sehr interessante Poster vorstellen, das auf dem Discovery Summit Europe präsentiert wurde.
Erkennung plötzlicher Prozesszeitabweichungen in einer Halbleiterfabrik mithilfe nicht standardisierter Regelkarten
Dieses Poster zeigt, wie lange Wafer – die dünnen Materialscheiben, aus denen Chips hergestellt werden – während eines bestimmten Fertigungsschritts in einer Anlage verbleiben. Im Wesentlichen überwachen wir die Prozesszeit der Anlage.
Hier der Link: https://community.jmp.com/t5/Abstracts/Detecting-Sudden-Process-Time-Variations-in-a-Semicon-Fab-using/ec-p/916583#M2319
Weitere interessante Präsentationen finden Sie hier: https://community.jmp.com/t5/Abstracts/eb-p/abstracts?tags=Europe,2026
