Chère communauté, je souhaite partager avec vous cette affiche très intéressante présentée au Discovery Summit Europe.
Détection des variations soudaines du temps de processus dans une usine de semi-conducteurs à l'aide de cartes de contrôle non standard
Cette affiche explique comment suivre le temps passé par les plaquettes (les fines tranches de matériau utilisées pour fabriquer les puces) à l'intérieur d'une machine lors d'une étape de fabrication spécifique. En d'autres termes, nous surveillons le temps de traitement de la machine.
Voici le lien : https://community.jmp.com/t5/Abstracts/Detecting-Sudden-Process-Time-Variations-in-a-Semicon-Fab-using/ec-p/916583#M2319
D'autres présentations intéressantes sont disponibles ici : https://community.jmp.com/t5/Abstracts/eb-p/abstracts?tags=Europe,2026
