Corinne Bergès
Six Sigma Black Belt para Analog & Sensor Business Quality Group, PhD
NXP Semiconductor SAS
Resumen:
La plataforma de análisis de degradación Jmp PRO se puede utilizar para diferentes propósitos. Nos gustaría presentar dos estudios de caso en la prueba de semiconductores automotrices.
En un primer ejemplo, las pruebas de potencia se realizan en el sitio del cliente y las medidas eléctricas monitorean el comportamiento de los componentes en diez puntos en un período de tiempo muy corto. Para ayudar a nuestro cliente a comprender la causa de la ruptura de una parte de los componentes del mos, la curva de diez puntos de estas medidas se compara entre las partes que no fallan y las que fallan: la herramienta jmp utilizada para eso fue la plataforma de análisis de degradación.
Otro estudio de caso para esa misma plataforma fue un análisis de deriva en los valores de la Prueba de vida útil de alta temperatura (HTOL). La prueba se realizó inicialmente durante 2000 horas, pero una solicitud posterior fue de aproximadamente 4000 horas de duración. El análisis de degradación de la plataforma permitió evitar una prueba costosa adicional: encontró varias familias de forma de curva entre las 1200 pruebas y logró predecir las que para ellas la deriva a las 4000 horas probablemente sea superior al 10%, valor máximo admisible.
