코린 베르게
Analog & Sensor Business Quality Group, PhD의 식스 시그마 블랙 벨트
NXP 반도체 SAS
추상:
Jmp PRO 성능 저하 분석 플랫폼은 다른 목적으로 사용될 수 있습니다. 우리는 차량용 반도체 테스트에서 두 가지 사례 연구를 제시하고자합니다.
첫 번째 예에서 전력은 고객의 현장에서 테스트되고 전기 측정은 매우 짧은 기간에 10 개 요소로 부품 동작을 모니터링합니다. 고객이 일부 부품의 고장 원인을 이해하는 데 도움이되도록 이러한 측정 값의 10 점 곡선을 실패하지 않은 부품과 실패한 부품에서 비교합니다. 사용 된 jmp 도구는 성능 저하 분석 플랫폼이었습니다.
동일한 플랫폼에 대한 또 다른 사례 연구는 고온 작동 수명 테스트 (HTOL) 값에 대한 드리프트 분석입니다. 이 테스트는 처음에는 2000 시간 동안 수행되었지만 이후 요청은 약 4000 시간의 테스트 기간이었습니다. 플랫폼 성능 저하 분석을 사용하면 추가 비용이 드는 테스트를 피할 수있었습니다. 1200 가지 테스트 중 몇 가지 커브 모양을 발견하고 4000 시간의 드리프트가 최대 허용 가능 값 인 10 %에서 우수 할 가능성이 높습니다.
