コリーヌ・ベルジェ
アナログ＆センサービジネス品質グループ、シックスのシックスシグマブラックベルト
NXPセミコンダクターSAS
抽象：
Jmp PRO劣化分析プラットフォームはさまざまな目的に使用できます。自動車用半導体テストにおける2つのケーススタディを紹介します。
最初の例では、電力モスは顧客の現場でテストされ、電気的測定は非常に短い期間内に10点で部品の挙動を監視します。お客様がmosコンポーネントの一部の故障原因を理解するのを助けるために、これらの測定値の10点曲線を、故障していない部分と故障した部分との間で比較します。
同じプラットフォームの別のケーススタディは、高温動作寿命試験（HTOL）値のドリフト分析でした。テストは最初2000時間の間に行われましたが、その後の要求は約4000時間のテスト期間でした。プラットホーム劣化解析は追加の高価な試験を回避することを可能にした：それは1200試験の中で曲線形状のいくつかの族を見つけ、それらに対するそれらを予測することに成功した。
