Corinne Bergès
Cintura nera Six Sigma per Analog & Sensor Business Quality Group, PhD
NXP Semiconductor SAS
Astratto:
La piattaforma di analisi della degradazione di Jmp PRO può essere utilizzata per diversi scopi. Vorremmo presentare due casi studio nel test dei semiconduttori per autoveicoli.
In un primo esempio, power mos sono testati presso il sito del cliente e le misure elettriche monitorano il comportamento dei componenti in dieci punti in un periodo di tempo molto breve. Per aiutare i nostri clienti a capire la causa del breakdownoot di una parte dei componenti mos, la curva a dieci punti di queste misure viene confrontata tra le parti non fallite e quelle non riuscite: lo strumento jmp utilizzato era la piattaforma di analisi del degrado.
Un altro case study per la stessa piattaforma era un'analisi della deriva dei valori HTOL (High Temperature Operating Life Test). Il test è stato inizialmente eseguito durante 2000 ore, ma una richiesta successiva è stata circa una durata di prova di 4.000 ore. L'analisi della degradazione della piattaforma ha permesso di evitare un ulteriore test costoso: ha trovato diverse famiglie di forma della curva tra i 1200 test ed è riuscito a prevedere quelli per i quali la deriva a 4000 ore era probabilmente superiore al 10%, valore massimo ammissibile.
