Corinne Bergès
Ceinture noire Six Sigma pour le groupe de la qualité d’entreprise des capteurs et des analogues, PhD
NXP Semiconductor SAS
Abstrait:
La plateforme d’analyse de dégradation Jmp PRO peut être utilisée à différentes fins. Nous aimerions présenter deux études de cas dans le test de semi-conducteurs pour automobile.
Dans un premier exemple, les moteurs électriques sont testés sur le site du client et des mesures électriques contrôlent le comportement des composants en dix points sur une très courte période. Pour aider notre client à comprendre la cause initiale d'une partie des composants, une courbe en dix points de ces mesures est comparée entre les parties non défaillantes et les pièces défaillantes: l'outil jmp utilisé à cet effet était la plate-forme d'analyse de dégradation.
Une autre étude de cas pour cette même plate-forme était une analyse de dérive sur les valeurs du test de durée de vie en fonctionnement à haute température (HTOL). Le test a été initialement effectué pendant 2 000 heures, mais une demande ultérieure a duré environ 4 000 heures. L’analyse de la dégradation de la plate-forme a permis d’éviter un test supplémentaire coûteux: elle a trouvé plusieurs familles de formes de courbes parmi les 1200 tests et a réussi à prédire celles pour lesquelles la dérive à 4000 heures était probablement supérieure à 10%, valeur maximale admissible.