Corinne Bergès
Six Sigma Black Belt für die Business Unit Analog & Sensor Business, PhD
NXP Semiconductor SAS
Abstrakt:
Die Degradationsanalyseplattform von Jmp PRO kann für verschiedene Zwecke verwendet werden. Wir möchten zwei Fallstudien im Kfz-Halbleitertest vorstellen.
In einem ersten Beispiel werden die Leistungen vor Ort beim Kunden getestet, und elektrische Maßnahmen überwachen das Verhalten der Komponenten an zehn Punkten in sehr kurzer Zeit. Um unseren Kunden dabei zu helfen, die Ursache eines Ausfalls eines Teils der mos-Komponenten zu verstehen, wird eine Zehn-Punkte-Kurve dieser Maßnahmen zwischen den nicht ausgefallenen und den ausgefallenen Teilen verglichen: Das dafür verwendete jmp-Tool war die Degradationsanalyse-Plattform.
Eine weitere Fallstudie für diese Plattform war eine Driftanalyse der HTOL-Werte. Der Test wurde anfänglich während 2000 Stunden durchgeführt, eine spätere Anforderung bestand jedoch aus einer Testdauer von 4000 Stunden. Durch die Analyse der Plattformverschlechterung konnte ein zusätzlicher kostspieliger Test vermieden werden: Er fand mehrere Familien von Kurvenformen unter den 1200 Tests, und es gelang ihnen, die für sie vorherzusagen, dass die Abweichung bei 4000 Stunden wahrscheinlich bei einem maximal zulässigen Wert von 10% überlegen war.
