CorinneBergès
模擬和傳感器業務質量小組的六西格瑪黑帶，博士
恩智浦半導體SAS
抽象：
Jmp PRO降解分析平台可用於不同目的。我們想在汽車半導體測試中提出兩個案例研究。
在第一示例中，在客戶現場測試功率mos，並且電氣測量在非常短的時間段內監測10個點的組件行為。為了幫助我們的客戶了解部分mos組件的故障原因，在非故障部件和故障部件之間比較這些測量的十點曲線：用於此的jmp工具是降級分析平台。
針對該平台的另一個案例研究是高溫操作壽命測試（HTOL）值的漂移分析。該測試最初在2000小時內進行，但後來的要求是大約4000小時的測試持續時間。平台退化分析允許避免額外的昂貴測試：它在1200次測試中找到了幾個曲線形狀族，並成功地預測了它們在4000小時的漂移可能優於10％，最大允許值。
