Das Citizen Data Scientist Programm von NXP ist eine Initiative, die dem Unternehmen sowohl statistische Schulungen als auch konkrete Ergebnisse liefert – wie die Eliminierung von mehr als 100 Tests ohne Verlust der Zuverlässigkeitsabdeckung.
In diesem Video erklärt Mehul Shroff, Technischer Direktor für intrinsische/Strahlungszuverlässigkeit bei NXP, wie die bei NXP angewandten statistischen Verfahren dazu führen, dass Kostensenkungen nicht auf Kosten der Qualität gehen.
