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Ridurre i costi operativi legati alla produzione accorciando il periodo di collaudo.

Per decenni, i test sono stati limitati al 2% dei costi totali di produzione, eseguiti con apparecchiature di test automatizzate altamente avanzate, in grado di effettuare diversi test contemporaneamente su più chip o wafer e, in definitiva, per diverse funzioni nell'ambito dei test a livello di sistema.

Oggi, queste percentuali di test sono di nuovo in aumento.

Sulla base dei dati relativi agli errori di esecuzione e ai tempi di test, è facile ottenere l'ordine ottimale dei test in termini di durata. Tracciando un grafico della copertura dei test nel tempo, è possibile studiare come ridurre ulteriormente la durata dei test quantificando al contempo l'impatto sulla qualità.

https://marketplace.jmp.com/appdetails/Test+Time+Optimizer

Con questo componente aggiuntivo, gli ingegneri possono:
- Ridurre il tempo complessivo del test identificando le fasi di scarso valore o ridondanti
- Riduzione dei costi di produzione grazie a decisioni più intelligenti in materia di strategie di test.
- Visualizzare la curva di copertura dei test in funzione del tempo per individuare chiaramente i compromessi e le opportunità di ottimizzazione.
- Prendi decisioni basate sui dati grazie a un'interfaccia JMP intuitiva.

Se migliorare la produttività e l'efficienza è una priorità per il tuo team, questo strumento può avere un impatto tangibile.