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Réduisez les coûts d'exploitation liés à la fabrication en raccourcissant la période de test.

Pendant des décennies, les tests se sont limités à 2 % du coût total de fabrication, avec des équipements de test automatisés très avancés capables d'effectuer simultanément plusieurs tests différents sur plusieurs puces ou plaquettes, et finalement pour différentes fonctions dans le cadre de tests au niveau du système.

Aujourd'hui, ces pourcentages de tests sont de nouveau à la hausse.

À partir des données d'erreurs d'exécution et de durée des tests, il est aisé de déterminer l'ordre optimal des tests en termes de durée. En traçant une courbe de couverture des tests au fil du temps, il est possible d'étudier comment réduire davantage leur durée tout en quantifiant l'impact sur la qualité.

https://marketplace.jmp.com/appdetails/Test+Time+Optimizer

Grâce à ce module complémentaire, les ingénieurs peuvent :
- Réduire la durée globale des tests en identifiant les étapes à faible valeur ajoutée ou redondantes
- Réduire les coûts de fabrication grâce à des décisions stratégiques de test plus judicieuses
- Visualisez la courbe de couverture des tests en fonction du temps pour identifier clairement les compromis et les possibilités d'optimisation.
- Prenez des décisions basées sur les données grâce à une interface JMP intuitive

Si l'amélioration du débit et de l'efficacité est une priorité pour votre équipe, cet outil peut avoir un impact mesurable.