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透過縮短測試週期來降低與製造相關的營運成本R

幾十年來，測試成本僅佔總製造成本的 2%，而且測試設備高度先進，能夠同時對多個晶片或晶圓執行幾種不同的測試，最終可以作為系統級測試的一部分，對不同的功能進行測試。

如今，這些檢測比例再次上升。

基於運行錯誤數據和測試時間數據，可以輕鬆獲得測試時長最優的測試順序。透過繪製測試覆蓋率隨時間變化的曲線，可以研究如何在量化對品質影響的同時進一步縮短測試時長。

https://marketplace.jmp.com/appdetails/Test+Time+Optimizer

借助此插件，工程師可以：
：白色重勾：透過識別低價值或冗餘步驟來減少整體測試時間
透過更明智的測試策略決策降低製造成本
:white_heavy_check_mark: 將測試覆蓋率與時間曲線視覺化，以便清楚地查看權衡取捨和最佳化機會。
使用直覺的 JMP 介面做出數據驅動的決策

如果提高吞吐量和效率是團隊的首要任務，那麼這款工具可以產生可衡量的影響。