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通过缩短测试周期来降低与制造相关的运营成本R

几十年来，测试成本仅占总制造成本的 2%，而且测试设备高度先进，能够同时对多个芯片或晶圆执行几种不同的测试，最终可以作为系统级测试的一部分，对不同的功能进行测试。

如今，这些检测比例再次上升。

基于运行错误数据和测试时间数据，可以轻松获得测试时长最优的测试顺序。通过绘制测试覆盖率随时间变化的曲线，可以研究如何在量化对质量影响的同时进一步缩短测试时长。

https://marketplace.jmp.com/appdetails/Test+Time+Optimizer

借助此插件，工程师可以：
：白色重勾：通过识别低价值或冗余步骤来减少整体测试时间
通过更明智的测试策略决策降低制造成本
:white_heavy_check_mark: 将测试覆盖率与时间曲线可视化，以便清晰地查看权衡取舍和优化机会。
使用直观的 JMP 界面做出数据驱动的决策

如果提高吞吐量和效率是团队的首要任务，那么这款工具可以产生可衡量的影响。