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테스트 기간을 단축하여 제조 관련 운영 비용을 절감하세요.

수십 년 동안 테스트는 전체 제조 비용의 2%에 불과했으며, 여러 칩이나 웨이퍼에 대해 동시에 여러 가지 테스트를 수행할 수 있는 고도로 발전된 자동화 테스트 장비가 도입되었고, 궁극적으로 시스템 수준 테스트의 일환으로 다양한 기능에 대한 테스트까지 가능해졌습니다.

오늘날 이러한 검사 비율은 다시 상승하고 있습니다.

실행 오류 데이터와 테스트 시간 데이터를 기반으로 테스트 소요 시간 측면에서 최적의 테스트 순서를 쉽게 얻을 수 있습니다. 시간 경과에 따른 테스트 커버리지 곡선을 그리면 품질에 미치는 영향을 정량화하면서 테스트 소요 시간을 더욱 단축하는 방법을 연구할 수 있습니다.

https://marketplace.jmp.com/appdetails/Test+Time+Optimizer

이 추가 기능을 사용하면 엔지니어는 다음과 같은 작업을 수행할 수 있습니다.
:흰색_진한_체크 표시: 가치가 낮거나 중복되는 단계를 식별하여 전체 테스트 시간을 단축하세요.
:white_heavy_check_mark: 더 스마트한 테스트 전략 결정을 통해 제조 비용을 절감하세요
테스트 커버리지 대 시간 곡선을 시각화하여 절충점과 최적화 기회를 명확하게 확인하세요.
직관적인 JMP 인터페이스로 데이터 기반 의사결정을 내리세요.

팀의 처리량과 효율성 향상이 최우선 과제라면 이 도구는 상당한 효과를 가져올 수 있습니다.