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Reduzierung der fertigungsbezogenen Betriebskosten durch Verkürzung der TestperiodeR

Jahrzehntelang waren die Testkosten auf 2 % der gesamten Herstellungskosten beschränkt, wobei hochentwickelte automatisierte Testgeräte in der Lage waren, mehrere verschiedene Tests gleichzeitig an mehreren Chips oder Wafern und letztendlich für verschiedene Funktionen im Rahmen von Systemtests durchzuführen.

Heute steigen diese Testquoten wieder an.

Anhand von Fehlerdaten und Testzeitdaten lässt sich die optimale Testreihenfolge hinsichtlich der Testdauer leicht ermitteln. Durch die Darstellung der Testabdeckung über die Zeit kann untersucht werden, wie die Testdauer weiter reduziert werden kann, wobei die Auswirkungen auf die Qualität quantifiziert werden.

https://marketplace.jmp.com/appdetails/Test+Time+Optimizer

Mit diesem Add-in können Ingenieure:
:white_heavy_check_mark: Reduzieren Sie die gesamte Testzeit durch die Identifizierung von Schritten mit geringem Nutzen oder redundanten Schritten.
Niedrigere Fertigungskosten durch intelligentere Teststrategieentscheidungen
Visualisieren Sie die Testabdeckungs-Zeit-Kurve, um Kompromisse und Optimierungsmöglichkeiten klar zu erkennen.
:white_heavy_check_mark: Treffen Sie datengestützte Entscheidungen mit einer intuitiven JMP-Oberfläche

Wenn die Steigerung des Durchsatzes und der Effizienz für Ihr Team Priorität hat, kann dieses Tool einen messbaren Beitrag leisten.