オンデマンドウェビナー：ファブデータ、迅速なインサイト：半導体エンジニアのための分析ワークフローこのオンデマンドウェビナーでは、JMPが半導体メーカーやティア1サプライヤーが異常発生時に迅速に対応し、根本原因を突き止め、歩留まりと品質の向上を推進する上でどのように役立つかをご紹介します。プロセス監視、インタラクティブなデータ可視化、予測モデリング、ワークフロー自動化といったJMPの機能について詳しく解説します。これらのツールは、意思決定を効率化し、業務全体にわたって洞察を拡大するのに役立ちます。
主なポイント：
- コーディング不要のインタラクティブなJMP環境で、関係性を探り、パターンを発見し、モデルを構築できます。
- JMPを活用して、異常事態への対応と根本原因分析を迅速化しましょう。
- 自動化を活用することで、手作業を減らし、拡張性とプロセス移行性を向上させることができます。
ウェビナーはこちらからご覧ください： https://www.jmp.com/en/resources/on-demand/non-series/fab-data-fast-insights-analytic-workflow-for-semiconductor-engineers
