In diesem On-Demand-Webinar erfahren Sie, wie JMP Halbleiterhersteller und Tier-1-Zulieferer dabei unterstützt, schneller auf Abweichungen zu reagieren, deren Ursachen zu ermitteln und Ertrag und Qualität zu steigern. Lernen Sie die Funktionen von JMP in den Bereichen Prozessüberwachung, interaktive Datenvisualisierung, prädiktive Modellierung und Workflow-Automatisierung kennen – Tools, die Entscheidungen optimieren und Erkenntnisse betriebsweit skalieren.
Wichtigste Erkenntnisse:
- Erforschen Sie Zusammenhänge, decken Sie Muster auf und erstellen Sie Modelle in einer interaktiven JMP-Umgebung – ganz ohne Programmierung.
- Beschleunigen Sie die Reaktion auf Störungen und die Ursachenanalyse mit JMP.
- Nutzen Sie Automatisierung, um den manuellen Aufwand zu reduzieren und die Skalierbarkeit sowie den Prozesstransfer zu verbessern.
Sehen Sie sich das Webinar hier an: https://www.jmp.com/en/resources/on-demand/non-series/fab-data-fast-insights-analytic-workflow-for-semiconductor-engineers
