Ich teile diese Erfolgsgeschichte von JSR Micro, weil sie ein starkes Beispiel dafür ist, wie die richtige Analysestrategie messbare Auswirkungen in der Halbleiterfertigung erzielen kann.
In diesem Fall optimierte JSR Micro seine Qualitätskontrolle und Produktionsanalyse durch die Integration mehrerer Datenquellen mithilfe von Lösungen von JMP . Angesichts unzusammenhängender Produktions-, Qualitätskontroll- und Umweltdatensätze konsolidierte das Team die Informationen, um schnellere und zuverlässigere Erkenntnisse zu gewinnen – die Batch-Prüfzeit wurde von 15 Minuten auf nur 5 Minuten reduziert, was eine jährliche Einsparung von mehr als 10 Arbeitstagen bedeutet.
Noch wichtiger ist jedoch, dass sie nun Abweichungen von den Spezifikationen frühzeitig erkennen können, wodurch Zuverlässigkeitsrisiken in nachgelagerten Prozessen vermieden und das Kundenvertrauen gestärkt werden. Dies ist ein hervorragendes Beispiel dafür, wie strukturierter Datenzugriff und statistische Werkzeuge sowohl die betriebliche Effizienz als auch die proaktive Qualitätsverbesserung in der Halbleitermaterialproduktion vorantreiben können.
Die vollständige Geschichte finden Sie hier: https://www.jmp.com/en/customer-stories/jsr-micro
