929162_de-DE

liliconcom

Automatisierung der Messsystemanalyse und -reparatur in JMP für eine große Anzahl von Variablen

Hallo,

Ich führe derzeit einen Gauge R&R-Bericht über JMP aus. Dazu verwende ich die Variabilitäts-/Attributmessinstrumente, um die Gauge R&R-Tabelle mit Messquellen und Abweichungen zu generieren. Die Vorgehensweise ist wie folgt:

Das Problem besteht darin, dass ich nach dem Ausführen des Variabilitätsdiagramms die unten stehende Gauge-RR-Tabelle manuell generieren muss:

Anschließend nutze ich die Funktion „Kombinierte Datentabelle“ der Messquellentabelle, um die Gauge-RR-Tabellen für die ausgewählten Variablen zu exportieren.

Das Problem ist, dass ich Hunderte von Variablen habe und die Generierung der Gauge RR-Tabelle für jede Variable bis zu drei Minuten dauern kann.
Das ist wirklich zeitaufwendig, und ich möchte fragen, ob es einen JSL-Code oder eine andere Möglichkeit gibt, die Messsystemanalyse-Tabelle für gegebene Tests zu generieren und sie effizienter nach Excel zu exportieren.

Wir wissen Ihre Hilfe sehr zu schätzen.

Fortgeschrittene statistische ModellierungAutomatisierung und SkripterstellungGrundlagen der Datenanalyse und ModellierungQualitäts- und ProzessentwicklungZuverlässigkeitsanalyseBetreff: Automatisierung der Messsystemanalyse und -reparatur in JMP für eine große Anzahl von Variablen

Wenn ich mich richtig erinnere, setzen diese voraus, dass Sie die Grenzwerte für die Spalteneigenschaften festgelegt haben. Wie man strukturierte Messsystemanalysen und -bewertungen über mehrere Tests hinweg (mit zusammenfassenden Tabellen) erstellt, enthält auch einen Link zu einigen anderen Methoden.

Betreff: Automatisierung der Messsystemanalyse und -reparatur in JMP für eine große Anzahl von Variablen

Danke @jthi, das ist sehr hilfreich. Im Beispiel wird Site als X-Variable verwendet, in meinem Fall habe ich in dieser Reihenfolge DIB_id, Site und dann Part_id. Ich nehme an, der Code sollte in meinem Fall folgendermaßen aussehen:

Names Default To Here(1);

dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

var = dt << Variability Chart(
	Y(:NPN1, :PNP1),
	Model("Main Effect"),
	X(:Dib_id),
	X(:SITE),
	X(:Part_id),
	Historical Sigma(0),
	Invisible
);
var << "Gauge R&R"n();
wait(0);

result_ref = Report(var)[OutlineBox("Gauge R&R")];
wait(0);

dt_result = result_ref[TableBox(1)] << Make Combined Data Table;

var << close window;

Klingt das plausibel? Vielen Dank!

Betreff: Automatisierung der Messsystemanalyse und -reparatur in JMP für eine große Anzahl von Variablen

Erstellen Sie das Variabilitätsdiagramm einmalig manuell und passen Sie das Skript bei Bedarf an. Wenn ich mich recht erinnere, laufen alle auf dasselbe X hinaus.

X(:Dib_id, :Site, :Part_id)

Stellen Sie sicher, dass die Schritte in der richtigen Reihenfolge ausgeführt werden, um das korrekte Modell zu erhalten (nehmen Sie außerdem die erforderlichen Änderungen am Modell vor).