発明家たち
Lekivetz, RA, Morgan, JA, King, CB, Jones, BA, Bailey, MW, Rhyne, JD
特許番号
米国特許 11,663,374
付与日
2023年5月30日
説明
装置は、実験設計のモデルに基づいて実験設計の変異体を推定するための第１のサブセット用語と、ベイズ修正を使用して推定するための第２のサブセット用語の選択を案内するプロンプトを提示するプロセッサと、用語の選択を監視するプロセッサと、第１のサブセット用語の各変更に応答して、すべての第１のサブセット用語がモデルに基づいて推定できるかどうかを判定するプロセッサと、第１のサブセットに含まれる用語が多すぎることに応答して、モデルに基づく推定に選択されている用語が多すぎるという表示を提示するプロセッサと、第１のサブセットに含まれる用語がモデルに基づいて推定できる用語よりも少ないことに応答して、モデルに基づく推定に選択できる用語がさらに多い可能性があるという表示を提示するプロセッサと、実験設計の変異体ごとに、モデルに基づいて第１のサブセット用語のそれぞれを推定し、ベイズ修正を使用して第２のサブセット用語のそれぞれを推定するプロセッサとを備える。
