발명가들
Lekivetz, RA, Morgan, JA, Jones, BA 및 King, CB, SAS Institute Inc, 2021.최적의 과포화 설계를 위한 도구미국 특허 11,125,655호.
특허 번호
미국 특허 11,125,655
승인 날짜
2021년 9월 21일
설명
컴퓨팅 장치는 실험 설계 요청을 수신합니다. 장치는 실험 설계에 대한 과포화 설계를 정의하는 행렬 Y의 데이터 표현을 생성합니다. 데이터 표현 생성 과정은 다음과 같습니다. 먼저, 입력된 설계에 따라 행렬 X의 데이터 표현을 생성하고, 행렬 Y의 요인 효과 간의 상관관계 지표를 계산하며, 이 상관관계 지표를 기반으로 행렬 X의 전치 또는 행렬 X*의 전치인 행렬 Y의 데이터 표현을 생성합니다. 행렬 X*는 행렬 X의 부분집합으로서, 행렬 X*의 전치가 행렬 X의 전치와 동일한 수의 요인을 나타내는 행렬입니다. 장치는 실험에 대한 과포화 설계의 각 테스트 조건에 대한 설정값을 출력합니다.
