作者
Yi Ji (1)、Ryan Lekivetz (2)、Simon Mak (1) 與 Joseph Morgan (1)
隸屬關係
（1）杜克大學，北卡羅來納州達勒姆市
（2）JMP 統計發現有限責任公司
雜誌
2023 年 IEEE 第 23 屆軟體品質、可靠性與安全性國際會議（QRS-C）
發布日期
2023
抽象的
故障定位是軟體測試中至關重要的環節，尤其是在軟體發生故障時。我們提出了一種新穎的貝葉斯故障定位方法，能夠對可疑的輸入組合進行基於原則的機率排序，從而識別故障的根本原因。
引用
Ji, Y., Lekivetz, R., Mak, S. 與 Morgan, J., 2023 年 10 月。 BayesFLo：用於軟體測試的貝葉斯故障定位。2023 年 IEEE 第 23 屆軟體品質、可靠性與安全性國際會議（QRS-C）（第 865-866 頁）。 IEEE， https://doi.org/10.1109/QRS-C60940.2023.00019 。
