Autores
Yi Ji (1), Ryan Lekivetz (2), Simon Mak (1) y Joseph Morgan (1)
Afiliaciones
(1) Universidad de Duke, Durham, Carolina del Norte
(2) JMP Statistical Discovery LLC
Diario
23.ª Conferencia Internacional IEEE sobre Calidad, Confiabilidad y Seguridad del Software (QRS-C) 2023
Fecha de publicación
2023
Abstracto
La localización de fallos es una actividad de pruebas de software crucial cuando se producen fallos. Proponemos un novedoso método bayesiano de localización de fallos, que genera una clasificación probabilística y basada en principios de combinaciones de entrada sospechosas para identificar las causas raíz de los fallos.
Citación
Ji, Y., Lekivetz, R., Mak, S. y Morgan, J., 2023, octubre. BayesFLo: Localización de fallos bayesiana para pruebas de software. En23.ª Conferencia Internacional IEEE sobre Calidad, Confiabilidad y Seguridad del Software (QRS-C) 2023(págs. 865-866). IEEE, https://doi.org/10.1109/QRS-C60940.2023.00019 .
