作者
Yi Ji (1)、Ryan Lekivetz (2)、Simon Mak (1) 和 Joseph Morgan (1)
隶属关系
（1）杜克大学，北卡罗来纳州达勒姆市
（2）JMP 统计发现有限责任公司
杂志
2023 年 IEEE 第 23 届软件质量、可靠性和安全性国际会议（QRS-C）
发布日期
2023
抽象的
故障定位是软件测试中至关重要的环节，尤其是在软件发生故障时。我们提出了一种新颖的贝叶斯故障定位方法，该方法能够对可疑的输入组合进行基于原则的概率排序，从而识别故障的根本原因。
引用
Ji, Y., Lekivetz, R., Mak, S. 和 Morgan, J., 2023 年 10 月。BayesFLo：用于软件测试的贝叶斯故障定位。2023 年 IEEE 第 23 届软件质量、可靠性和安全性国际会议（QRS-C）（第 865-866 页）。IEEE， https://doi.org/10.1109/QRS-C60940.2023.00019 。
