저자
이 지(1), 라이언 레키베츠(2), 사이먼 막(1) 및 조셉 모건(1)
소속
(1) 듀크 대학교, 더럼, 노스캐롤라이나
(2) JMP Statistical Discovery LLC
신문
2023 IEEE 제23회 소프트웨어 품질, 신뢰성 및 보안 국제 컨퍼런스(QRS-C) 동반 행사
게시일
2023
추상적인
결함 위치 파악은 소프트웨어 오류 발생 시 매우 중요한 소프트웨어 테스트 활동입니다. 본 논문에서는 오류의 근본 원인을 식별하기 위해 의심스러운 입력 조합을 원칙적이고 확률적으로 순위화하는 새로운 베이지안 결함 위치 파악 방법을 제안합니다.
소환
Ji, Y., Lekivetz, R., Mak, S. 및 Morgan, J., 2023년 10월. BayesFLo: 소프트웨어 테스트를 위한 베이지안 결함 위치 파악.2023 IEEE 제23회 소프트웨어 품질, 신뢰성 및 보안 국제 컨퍼런스(QRS-C) 동반 행사(865-866쪽). IEEE, https://doi.org/10.1109/QRS-C60940.2023.00019 .
