著者
イー・ジ（1）、ライアン・レキベッツ（2）、サイモン・マック（1）、ジョセフ・モーガン（1）
所属
（1）デューク大学、ノースカロライナ州ダーラム
（2）JMP統計発見有限責任会社
ジャーナル
2023 IEEE 第23回ソフトウェア品質、信頼性、セキュリティコンパニオンに関する国際会議 (QRS-C)
公開日
2023
抽象的な
障害箇所の特定は、ソフトウェア障害発生時に極めて重要なソフトウェアテスト活動です。本稿では、ベイズ法に基づく新たな障害箇所特定手法を提案します。この手法は、疑わしい入力の組み合わせを原理的かつ確率的にランク付けし、障害の根本原因を特定します。
引用
Ji, Y., Lekivetz, R., Mak, S. and Morgan, J., 2023年10月. BayesFLo: ソフトウェアテストのためのベイズ的障害位置特定.2023 IEEE 第23回ソフトウェア品質、信頼性、セキュリティコンパニオンに関する国際会議 (QRS-C)(pp. 865-866). IEEE, https://doi.org/10.1109/QRS-C60940.2023.00019 .
