Autori
Yi Ji (1), Ryan Lekivetz (2), Simon Mak (1) e Joseph Morgan (1)
Affiliazioni
(1) Duke University, Durham, NC
(2) JMP Statistical Discovery LLC
Giornale
23a conferenza internazionale IEEE 2023 sulla qualità, l'affidabilità e la sicurezza del software (QRS-C)
Data di pubblicazione
2023
Astratto
La localizzazione dei guasti è un'attività di test del software che risulta fondamentale quando si verificano guasti. Proponiamo un nuovo metodo bayesiano di localizzazione dei guasti, che fornisce una classificazione probabilistica e basata su principi delle combinazioni di input sospette per identificare le cause profonde dei guasti.
Citazione
Ji, Y., Lekivetz, R., Mak, S. e Morgan, J., 2023, ottobre. BayesFLo: Localizzazione bayesiana degli errori per il test del software. In23a conferenza internazionale IEEE 2023 sulla qualità, l'affidabilità e la sicurezza del software (QRS-C)(pagine 865-866). IEEE, https://doi.org/10.1109/QRS-C60940.2023.00019 .
