Auteurs
Yi Ji (1), Ryan Lekivetz (2), Simon Mak (1) et Joseph Morgan (1)
Affiliations
(1) Université Duke, Durham, Caroline du Nord
(2) JMP Statistical Discovery LLC
Journal
Actes complémentaires de la 23e conférence internationale IEEE sur la qualité, la fiabilité et la sécurité des logiciels (QRS-C)
Date de publication
2023
Abstrait
La localisation des défauts est une activité de test logiciel essentielle en cas de défaillance. Nous proposons une nouvelle méthode bayésienne de localisation des défauts, qui établit un classement probabiliste et rigoureux des combinaisons d'entrées suspectes afin d'identifier les causes profondes des défaillances.
Citation
Ji, Y., Lekivetz, R., Mak, S. et Morgan, J., octobre 2023. BayesFLo : localisation bayésienne des défauts pour les tests logiciels. DansActes complémentaires de la 23e conférence internationale IEEE sur la qualité, la fiabilité et la sécurité des logiciels (QRS-C)(pp. 865-866). IEEE, https://doi.org/10.1109/QRS-C60940.2023.00019 .
