저자
Ryan Lekivetz(1) 및 Joseph Morgan(1)
소속
(1) JMP Statistical Discovery LLC
신문
통계 이론 및 실천 저널
게시일
2020
추상적인
테스트 엔지니어들은 복잡한 엔지니어링 시스템을 테스트하기 위한 테스트 케이스를 도출하는 데 있어 커버리지 어레이(covering array)를 점점 더 많이 활용하고 있습니다. 이러한 테스트 접근 방식을 조합 테스트(combinatorial testing)라고 하며, 여러 입력값의 조합으로 인해 발생하는 시스템 오류를 효과적으로 식별하는 데 비용 효율적인 방법임이 입증되었습니다. 그러나 이러한 오류가 발생하여 테스트 실패가 발생하면, 테스트 엔지니어는 오류를 유발한 입력값과 관련 값을 파악해야 합니다. 이 과정은 일반적으로 수많은 잠재적 원인을 검토하는 것을 포함하며, 잠재적 원인의 수를 줄이기 위해 후속 테스트를 수행해야 할 수도 있습니다. 본 논문에서는 테스트 엔지니어가 흔히 보유하는 테스트 대상 시스템에 대한 사전 지식을 활용하여 이 문제를 해결합니다. 테스트 케이스 실행 전에 이러한 사전 지식을 사용하여 테스트 케이스 모음의 효율성을 평가하고 개선하는 방법을 제시합니다. 마지막으로, 테스트 실패가 발생한 경우를 다루고, 이러한 사전 지식이 오류를 유발한 입력값과 관련 값을 파악하는 데 어떻게 도움이 될 수 있는지 보여줍니다. 또한, 본 논문에서는 복잡한 엔지니어링 시스템을 테스트하기 위한 커버링 어레이의 사용과 전통적인 실험 설계 환경에서 사용되는 요인 실험의 사용을 비교 및 대조합니다.
소환
Lekivetz, R. 및 Morgan, J., 2020. 커버링 어레이: 구성, 평가 및 결함 위치 파악을 용이하게 하기 위한 사전 정보 사용.통계 이론 및 실천 저널, 14(1), p.7, https://doi.org/10.1007/s42519-019-0075-2 .
