저자
Caleb King(1), Joseph Morgan(1) 및 Ryan Lekivetz(1)
소속
(1) JMP Statistical Discovery LLC
신문
2019 IEEE 제19회 소프트웨어 품질, 신뢰성 및 보안 국제 컨퍼런스(QRS-C)
게시일
2019
추상적인
테스트 엔지니어는 제한된 예산 내에서 결함 발견 가능성을 극대화하는 테스트 케이스를 선택해야 하는 어려움에 자주 직면합니다. 조합 테스트는 이러한 문제를 해결하기 위한 효과적인 테스트 케이스 선택 전략입니다. 기본 아이디어는 입력값의 부분집합이 선택되더라도 두 개(또는 그 이상)의 입력값에서 가능한 모든 조합을 고려하는 테스트 케이스를 선택하는 것입니다. 이는 커버링 배열을 테스트 케이스 선택 메커니즘으로 사용함으로써 달성됩니다. 그러나 주어진 테스트 시나리오에서 예산 및 커버리지 요구 사항을 충족할 수 있는 여러 대안적인 커버링 배열이 존재할 수 있습니다. 안타깝게도 이러한 대안 중에서 어떤 것을 선택해야 할지 불분명한 경우가 많습니다. 실무자들은 입력 공간이 어떻게 커버되는지 시각화하여 테스트 시나리오에 가장 적합한 대안을 결정하고자 합니다. 본 논문에서는 이진 커버링 배열을 평가하는 데 사용할 수 있는 그래픽 방법을 제안합니다. 이 방법을 통해 실무자는 관심 있는 입력값에 대한 입력 공간 커버리지를 시각화할 수 있습니다. 몇 가지 예제를 통해 이 방법을 설명합니다.
소환
King, C., Morgan, J. 및 Lekivetz, R., 2019년 7월. 디자인 프랙탈: 이진 커버링 배열 평가를 위한 그래픽 방법.2019 IEEE 제19회 소프트웨어 품질, 신뢰성 및 보안 국제 컨퍼런스(QRS-C)(185-190쪽). IEEE, https://doi.org/10.1109/QRS-C.2019.00046 .
