Autori
Caleb King (1), Joseph Morgan (1) e Ryan Lekivetz (1)
Affiliazioni
(1) JMP Statistical Discovery LLC
Giornale
2019 IEEE 19a Conferenza Internazionale sulla Qualità, Affidabilità e Sicurezza del Software Companion (QRS-C)
Data di pubblicazione
2019
Astratto
Gli ingegneri di test si trovano spesso ad affrontare la sfida di selezionare casi di test che massimizzino le possibilità di individuare guasti pur lavorando con un budget limitato. Il test combinatorio è una strategia efficace di selezione dei casi di test per affrontare questa sfida. L'idea di base è quella di selezionare casi di test che garantiscano che tutte le possibili combinazioni di impostazioni da due (o più) input siano prese in considerazione, indipendentemente dal sottoinsieme di input selezionato. Questo si ottiene utilizzando un array di copertura come meccanismo di selezione dei casi di test. Tuttavia, per qualsiasi scenario di test, di solito esistono diversi array di copertura alternativi che possono soddisfare i requisiti di budget e di copertura. Sfortunatamente, spesso non è chiaro come scegliere tra queste alternative. I professionisti spesso desiderano un modo per esplorare come viene coperto lo spazio di input per decidere quale alternativa sia più adatta allo scenario di test. In questo articolo proponiamo un metodo grafico che può essere utilizzato per valutare array di copertura binari. Il metodo consente ai professionisti di visualizzare la copertura dello spazio di input per gli input di interesse. Illustriamo il metodo con diversi esempi.
Citazione
King, C., Morgan, J. e Lekivetz, R., 2019, luglio. Frattali di progettazione: un metodo grafico per la valutazione di array di copertura binaria. In2019 IEEE 19a Conferenza Internazionale sulla Qualità, Affidabilità e Sicurezza del Software Companion (QRS-C)(pagine 185-190). IEEE, https://doi.org/10.1109/QRS-C.2019.00046 .
