Autoren
Ryan Lekivetz (1) und Joseph Morgan (1)
Zugehörigkeiten
(1) JMP Statistical Discovery LLC
Zeitschrift
2018 IEEE International Symposium on Software Reliability Engineering Workshops (ISSREW)
Veröffentlichungsdatum
2018
Abstrakt
Überdeckende Testmatrizen werden zunehmend als Werkzeug zur Bestimmung von Testfällen für komplexe technische Systeme eingesetzt. Ihr Hauptvorteil liegt darin, dass sie eine effiziente Methode zur Erstellung von Testfällen darstellen, die effektiv Fehler aufgrund der Kombination mehrerer Eingangsgrößen aufdecken. Testingenieure verfügen oft über Vorwissen zum zu testenden System. Wir schlagen eine Methode zur Bewertung und Erstellung überdeckender Testmatrizen vor, die dieses Vorwissen über die Eingangsgrößen nutzt. Dadurch kann die resultierende Testsuite die Wahrscheinlichkeit erhöhen, einen Fehler aufzudecken.
Zitat
Lekivetz, R. und Morgan, J., Oktober 2018. Bewertung und Konstruktion von Überdeckungsarrays unter Verwendung von Vorinformationen. In2018 IEEE International Symposium on Software Reliability Engineering Workshops (ISSREW)(S. 132-133). IEEE, https://doi.org/10.1109/ISSREW.2018.00-17 .
