저자
Ryan Lekivetz(1) 및 Joseph Morgan(1)
소속
(1) JMP Statistical Discovery LLC
신문
2018 IEEE 국제 소프트웨어 품질, 신뢰성 및 보안 컨퍼런스(QRS-C) 동반 행사
게시일
2018
추상적인
커버링 어레이는 복잡한 엔지니어링 시스템을 테스트하기 위한 테스트 케이스를 결정하는 도구로 점점 더 많이 사용되고 있습니다. 커버링 어레이를 이러한 목적으로 사용하는 가장 큰 장점은 여러 입력값의 조합으로 인해 발생하는 오류를 효과적으로 찾아낼 수 있는 효율적인 테스트 케이스 구성 방식이라는 점입니다. 그러나 오류가 발생했을 때 오류를 유발한 입력값을 찾아내는 것은 일반적으로 시간이 많이 소요되는 작업입니다. 이 논문에서는 테스트 엔지니어가 테스트 대상 시스템에 대한 사전 지식을 활용하여 일련의 테스트 케이스 결과를 효율적으로 분석할 수 있는 방법을 제시합니다. 이 분석을 통해 오류를 유발했을 가능성이 있는 입력값 조합의 순위를 매길 수 있습니다.
소환
Lekivetz, R. 및 Morgan, J., 2018년 7월. 결함 위치 파악: 사전 정보를 활용한 커버링 어레이 분석.2018 IEEE 국제 소프트웨어 품질, 신뢰성 및 보안 컨퍼런스(QRS-C) 동반 행사(116-121쪽). IEEE, https://doi.org/10.1109/QRS-C.2018.00033 .
